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Dongguan Zhongli Instrument Technology Co., Ltd.
Aperçu ProduitsÉquipement d'essai d'emballage

Mesure d'épaisseur de film d'OIN 4593 avec 0,1 résolutions de μm pour le papier, gaufrettes de silicium

LA CHINE Dongguan Zhongli Instrument Technology Co., Ltd. certifications
LA CHINE Dongguan Zhongli Instrument Technology Co., Ltd. certifications
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—— Remy Attalin

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—— Warunee Nahauythong

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Mesure d'épaisseur de film d'OIN 4593 avec 0,1 résolutions de μm pour le papier, gaufrettes de silicium

ISO 4593 Film Thickness Gauge With 0.1 μM Resolution For Paper , Silicon Wafers
ISO 4593 Film Thickness Gauge With 0.1 μM Resolution For Paper , Silicon Wafers ISO 4593 Film Thickness Gauge With 0.1 μM Resolution For Paper , Silicon Wafers ISO 4593 Film Thickness Gauge With 0.1 μM Resolution For Paper , Silicon Wafers

Image Grand :  Mesure d'épaisseur de film d'OIN 4593 avec 0,1 résolutions de μm pour le papier, gaufrettes de silicium

Détails sur le produit:
Lieu d'origine: La Chine
Nom de marque: ZL
Certification: CE,ISO
Numéro de modèle: ZL-1210
Conditions de paiement et expédition:
Quantité de commande min: 1 ensemble
Prix: negotiable
Détails d'emballage: La mesure d'épaisseur de film d'OIN 4593 avec 0,1 résolutions de μm pour le papier, gaufrettes de si
Délai de livraison: 5-8 jours de travail
Conditions de paiement: L/C, T/T, Western Union
Capacité d'approvisionnement: 60 ensembles
Description de produit détaillée
Nom de produit: Mesure d'épaisseur de film d'OIN 4593 avec 0,1 résolutions de μm pour le papier, gaufrettes de silic Chaîne d'essai: 0~2 millimètres 0~6 millimètres (conventionnels) ; 12 millimètres (de facultatif)
Vitesse de mesure: 10 fois/minute (réglable) PRESSION D'ESSAI: 17.5±1 KPa (film) ; 50±1 KPa (papier)
Étape d'injection témoin: 0~1000 millimètres Vitesse d'injection témoin: 0.1~99.9 mm/s
Alimentation d'énergie: C.A. 220V 50HZ Poids net: 32 KILOGRAMMES
Mettre en évidence:

Équipement d'essai de empaquetage d'OIN 4593

,

machine d'essai de empaquetage de 99

Jauge d'épaisseur de film ISO 4593 avec une résolution de 0,1 µm pour le papier, les plaquettes de silicium
Aperçu

La jauge d'épaisseur ZL-1210 utilise une méthodologie de mesure par contact mécanique, respectant strictement les exigences standard pour assurer la standardisation et la précision des tests. Cet instrument professionnel est conçu pour la mesure précise de l'épaisseur de divers matériaux, y compris les films plastiques, les feuilles, les diaphragmes, le papier, les feuilles métalliques, les plaquettes de silicium, et plus encore, dans la plage de mesure spécifiée.

Caractéristiques principales
  • Zone de contact et pression de mesure strictement conçues conformément aux normes, avec prise en charge de diverses personnalisations non standard
  • Tête de mesure relevée et abaissée automatiquement pendant les tests pour éliminer les erreurs système induites par l'homme
  • Modes de mesure automatique et manuel pour une utilisation flexible par l'utilisateur
  • Injection automatique d'échantillons avec des paramètres configurables par l'utilisateur, y compris le pas d'échantillonnage, les points de mesure et la vitesse d'échantillonnage
  • Affichage en temps réel des données analytiques, y compris les mesures maximales, minimales, moyennes et d'écart type
  • Équipé de cales étalons pour l'étalonnage du système afin d'assurer la précision des tests et la cohérence des données
  • Fonctionnalités complètes, y compris l'affichage des données en temps réel, les statistiques automatiques et les capacités d'impression
  • Système contrôlé par micro-ordinateur avec écran LCD, interface de menu et panneau d'opération en PVC pour une utilisation intuitive
  • Interface USB standard pour la connectivité avec un ordinateur externe et le transfert de données
Applications
Applications de base
Feuilles, diaphragmes, papier, carton, feuilles métalliques, plaquettes de silicium, tôles métalliques, matériaux textiles, isolants électriques solides, matériaux non tissés, et produits tels que les couches et les serviettes hygiéniques
Principe de test

L'instrument de mesure d'épaisseur de film ZL-1210 utilise les principes de mesure par contact mécanique. Une taille de motif spécifique est interceptée et, via les boutons du panneau de commande, la tête de mesure est ajustée pour entrer en contact avec le motif. La pression générée entre les deux surfaces de contact et les valeurs mesurées des deux zones de contact sont traitées par le capteur pour déterminer l'épaisseur du matériau.

Normes de conformité

Cet instrument est conforme à de nombreuses normes nationales et internationales : ISO 4593, ISO 534, ISO 3034, GB/T 6672, GB/T 451.3, GB/T 6547, ASTM D374, ASTM D1777, TAPPI T411, JIS K6250, JIS K6783, JIS Z1702, BS 3983, BS 4817

Spécifications techniques
Paramètre Spécification
Modèle Jauge d'épaisseur de film ZL-1210
Plage de test 0-2 mm (conventionnel) ; 0-6 mm ; 12 mm (en option)
Résolution 0,1 µm
Vitesse de mesure 10 fois/min (réglable)
Pression de test 17,5 ± 1 KPa (film) ; 50 ± 1 KPa (papier)
Zone de contact 50 mm² (film) ; 200 mm² (papier)
Remarque : Choisir la configuration film ou papier ; personnalisations non standard disponibles
Pas d'injection d'échantillon 0-1000 mm
Vitesse d'injection d'échantillon 0,1-99,9 mm/s
Alimentation AC 220V 50Hz
Dimensions 461 mm (L) × 334 mm (l) × 357 mm (H)
Poids net 32 kg
Configuration standard
Composant Description
Configuration standard Unité hôte, une cale étalon, câble de communication, tête de mesure
Pièces optionnelles Tête de mesure non standard, contrepoids, logiciel professionnel
ZL-1210 Film Thickness Gauge professional measurement instrument

Coordonnées
Dongguan Zhongli Instrument Technology Co., Ltd.

Personne à contacter: Ms. Fiona Zhong

Téléphone: +86 135 3248 7540

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